製品保証
弊社の製品には、1年間の無償修理保証が付いておりますので、製品ご購入後、万一故障が生じた場合、保証書記載の無償修理規定に基づき無償修理いたします。
保証書には、保障期間年月等の所定事項が記入されていることが必要です。なお、保証書は再発行いたしませんので紛失しないようにご注意ください。
校正について
弊社では、製品を最良の状態で長くご使用いただくために点検・校正のサポートも行なっております。
特徴
1.一般的には、精度1.0%以内の検定が多いのですが、弊社では精度0.5%以内の検定を行っています。
2.弊社では、基準磁界強度を100mT,500mT,1T,2Tの4ポイントで検定して測定直線性(リニアリティ)を確認しています。(一般的には、1ポイントのみの確認です。)
3.弊社では、ガウスメーター本体とホールプローブを組み合わせたワンセットで検定いたします。0.5%以内の精度に入らない場合は調整(別途費用はかかりません)してご返却いたします。
(一般的には、本体とプローブ個別の精度検定でありワンセットの精度は見ていません。また、精度範囲から外れている時の調整もありません。)
尚、修理が必要で、修理を希望される場合には別途費用がかかります。
弊社のトレーサビリティにつきましては、《 トレーサビリティ体系図 》[ 体系図を別窓で開く]をご覧ください。
修理対応
弊社製品をご愛用いただきまして、誠にありがとうございます。製品を長期間お使いいただくために万全のサポートを心がけておりますが、部品手配等の諸事情により、製品の修理対応期間を製品のお買い上げ日より15年間とさせて頂いております。また、製造終了機種につきましても15年経過をもちまして修理対応を終了させて頂きます。
<製造終了機種>
型名 | 修理対応 終了年 |
製品概要 | 類似 代替品 |
7500 | 対応終了 | 広帯域倍速サンプリングタイプ | なし |
8200 | 対応終了 | HGM型の原点モデル(アナログ表示) | なし |
8200A | 対応終了 | 低磁界計測対応タイプ(アナログ表示) | なし |
8300-1 | 対応終了 | BCDパラレル出力付き | なし |
8300-2 | 対応終了 | 1設定デジタルコンパレータ付き | なし |
8300-3 | 対応終了 | 上下限2設定デジタルコンパレータ付き | なし |
8300-3P | 対応終了 | ピークホールド機能付タイプ | なし |
8600 | 対応終了 | GP-IB制御機能搭載のフルリモコンタイプ | なし |
8800 | 対応終了 | ピークホールド付高速サンプリングタイプ | なし |
<OEM機種>
型名 | 製造年月 | 製品概要 |
4001 | 2004年6月 | 低磁界計測レンジ(10mT〜100mT)タイプのOEM品 |
8200K2 | 1993年10月 | 8200型出力電圧(±5Vと±10V)切替え対応タイプ |
8201-8R | 2003年3月 | 入力8レンジ(2バンド切替)のラックマウントタイプ |
8300-8R | 1993年11月 | 入力8チャンネル同時測定のラックマウントタイプ |
8300-8RA | 2000年8月 | 入力8チャンネル同時測定のラックマウントタイプ |
8300AR | 2005年10月 | 入力1レンジ固定のラックマウントタイプ |
8300AW | 2007年2月 | 低磁界計測レンジの2チャンネル同時測定タイプ |
8300AW-2RT | 2005年10月 | 8300ARの2チャンネル同時測定のラックマウントタイプ |
8300A-2RT | 2007年8月 | 測定2レンジ切替え外部端子付のラックマウントタイプ |
8300A-3RT | 2006年10月 | 測定3レンジ切替え外部端子付のラックマウントタイプ |
8300A-4RT | 2005年8月 | 測定4レンジ切替え外部端子付のラックマウントタイプ |
8300AS | 2005年4月 | 高磁界測定専用の2レンジ(1T,10T)タイプ |
8300AS-3 | 2007年6月 | 高磁界測定専用の1レンジ(3T)固定タイプ |
8300S1 | 2004年4月 | 低磁界計測対応(1mT〜3T)のOEM品 |
8900-G | 1994年5月 | 8900S型のGPIB機能付入力3チャンネル同時測定タイプ |
8900S-4R | 2002年12月 | 8900S型の入力4チャンネル同時測定タイプ |
9300 | 2008年11月 | 8900型の表示機能を持たないシステム開発用のモデル |
9700 | 2007年5月 | 8900型の4・1/2桁表示用モデル |
9900 | 2005年5月 | 8300型の入力4チャンネル同時測定用モデル |